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椭偏仪测试报告

<font color='red'>椭偏仪</font>测试报告

2025-04-09  -  椭偏仪（Ellipsometer）是一种基于椭圆偏振光原理的非接触式光学测量设备，广泛应用于薄膜厚度、光学常数（折射率、消光系数）、表面粗糙度及材料结构的表征。其高精度、非破坏性和快速检测能力使其在半导体、光伏、显示面板、光学镀膜等领域占据重要地位。本报告旨在系统介绍椭偏仪测试的核心要素，涵盖检测范围、检测项目、检测方法及仪器类型，为科研与工业应用提供技术参考。

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