检测项目

Ra（轮廓算术平均偏差）：0.01-25μm

Rz（最大高度）：0.1-160μm

Rq（均方根粗糙度）：0.02-30μm

Rt（总高度）：0.5-200μm

Rp（最大峰高）：0.05-100μm

Rv（最大谷深）：0.05-100μm

Rsk（偏斜度）：-3.0~+3.0

Rku（陡度）：1.0-10.0

Rsm（轮廓单元平均宽度）：0.002-25mm

Rmr（材料比率曲线）：10%-90%

Rc（轮廓单元高度）：0.05-120μm

Rda（算术平均斜率）：0.1°-85°

Rdq（均方根斜率）：0.2°-89°

Rλq（波纹度均方根）：0.05-50μm

Rmax（单次测量最大高度差）：0.1-200μm

检测范围

不锈钢精密加工件（Ra 0.1-3.2μm）

铝合金压铸件（Rz 5-50μm）

钛合金航空结构件（Ra 0.4-6.3μm）

硬质合金刀具刃口（Rz 0.05-1.6μm）

高分子材料注塑件（Ra 0.8-12.5μm）

光学玻璃镜片（Ra 0.01-0.1μm）

陶瓷基复合材料（Rz 2-20μm）

液压缸筒内壁（Ra 0.2-1.6μm）

轴承滚道表面（Ra 0.025-0.4μm）

齿轮啮合面（Ra 0.4-3.2μm）

半导体晶圆衬底（Ra＜1nm）

金属增材制造件（Rz 10-100μm）

橡胶密封面（Ra 3.2-25μm）

电镀涂层表面（Rz 0.8-12.5μm）

PCB铜箔基板（Ra 0.3-5μm）

检测方法

接触式轮廓法：ASTM D7127/GB/T 3505

白光干涉法：ISO 25178/GB/T 33523

激光共聚焦法：ISO 25178-6/GB/T 39489

原子力显微镜法：ISO 11039/ASTM E2859

相位偏移干涉法：ASTM F1811/GB/T 29558

数字全息显微术：ISO 25178-7/GB/T 39490

扫描电子显微镜法：ASTM E766/GB/T 23414

检测设备

Mitutoyo SJ-410表面粗糙度仪：接触式测量，分辨率0.01μm，符合ISO 4287标准

Bruker ContourGT-K光学轮廓仪：白光干涉技术，垂直分辨率0.1nm

Taylor Hobson Form Talysurf i-Series：接触/非接触复合式测量系统，Ra测量范围0.01-100μm

Olympus LEXT OLS5000激光显微镜：120nm横向分辨率，符合JIS B0671标准

ZeGage Plus三维光学轮廓仪：相位偏移干涉技术，重复性＜0.1nm RMS

Keyence VK-X3000激光共聚焦显微镜：405nm激光波长，Z轴分辨率1nm

AEP Technology XC300非接触式粗糙度仪：双CCD成像系统，测量速度20mm/s

中析研究所检测，科学公正准确！

报告：可出具第三方检测报告(电子版/纸质版)。

检测周期：7~15工作日，可加急。

资质：旗下实验室可出具CMA/资质报告。

标准测试：严格按国标/行标/企标/国际标准检测。

非标测试：支持定制化试验方案。

售后：报告终身可查，工程师1v1服务。

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